Échantillonneur de Faisceau Raie Laser Nd:YAG 355 nm, 25,4 mm de dia., 1 mm d’épaisseur

Description commune pour les Produits de la même Famille

• Conception mince de 1 mm pour les applications à espace et poids limités
• La première surface non traitée assure une réflexion de Fresnel
• La seconde surface recouverte d'un traitement AR assure une transmission élevée
• Seuil de dommage laser élevé pour éviter l'ablation par le laser

Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® sont conçus pour isoler une petite partie des faisceaux incidents grâce aux propriétés de réflexion de Fresnel et d'antireflet à des fins de contrôle des faisceaux. Ces échantillonneurs de faisceau sont conçus avec une épaisseur de 1 mm pour faciliter les applications où les contraintes d'espace et de poids sont critiques. En outre, un traitement antireflet (AR) avec un seuil de dommage élevé sur la surface deux maximise la transmission et réduit les reflets fantômes. Ces échantillonneurs de faisceau traités sur une seconde surface sont disponibles avec des traitements raie laser comprenant les longueurs d'onde 266 nm, 355 nm, 532 nm et 1064 nm. Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® sont dotés d'un substrat en silice fondue UV qui offre une excellente transmission de l'UV à l'IR et un faible coefficient de dilatation thermique. Ces échantillonneurs de faisceau sont idéaux pour les applications où il est nécessaire de contrôler la puissance du faisceau, la distorsion du front d'onde et les pertes optiques.

Remarque : Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® peuvent être utilisés avec les produits de mesure laser pour surveiller les propriétés des faisceaux, telles que la puissance et le profil des faisceaux, en temps réel.