Name: Échantillonneur de Faisceau Raie Laser Nd:YAG 266 nm, 25,4 mm de dia., 1 mm d’épaisseur
Brand: TECHSPEC
SKU: 29-018
Price: €121,00

Échantillonneur de Faisceau Raie Laser Nd:YAG 266 nm, 25,4 mm de dia., 1 mm d’épaisseur

TECHSPEC® Thin Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

Stock #29-018 Nouveau 3-4 jours

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Espace téléchargement

Angle d'Incidence (°):

0 ±5

Traitement:

Laser V-Coat (266nm)

Longueur d'Onde de Conception DWL (nm):

266

Diamètre (mm):

25.40 +0.00/-0.10

Substrat: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More

Fused Silica (Corning 7980)

Indice de Réfraction n_d:

1.458

Qualité de Surface:

20-10

Épaisseur (mm):

1.00 ±0.10

Type:

Beam Sampler

Spécification du Traitement:

R_abs <0.25% @ 266nm @ 0 ±5° AOI

Ouverture Utile (%):

Parallélisme (arcmin):

<0.50

Damage Threshold, By Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.

3 J/cm² @ 266nm, 20ns, 20Hz

Transmitted Wavefront Distortion:

0.167 @ 632.8nm

Conformité réglementaire

RoHS:

Conforme

Certificate of Conformance:

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Description commune pour les Produits de la même Famille

Conception mince de 1 mm pour les applications à espace et poids limités
La première surface non traitée assure une réflexion de Fresnel
La seconde surface recouverte d'un traitement AR assure une transmission élevée
Seuil de dommage laser élevé pour éviter l'ablation par le laser

Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® sont conçus pour isoler une petite partie des faisceaux incidents grâce aux propriétés de réflexion de Fresnel et d'antireflet à des fins de contrôle des faisceaux. Ces échantillonneurs de faisceau sont conçus avec une épaisseur de 1 mm pour faciliter les applications où les contraintes d'espace et de poids sont critiques. En outre, un traitement antireflet (AR) avec un seuil de dommage élevé sur la surface deux maximise la transmission et réduit les reflets fantômes. Ces échantillonneurs de faisceau traités sur une seconde surface sont disponibles avec des traitements raie laser comprenant les longueurs d'onde 266 nm, 355 nm, 532 nm et 1064 nm. Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® sont dotés d'un substrat en silice fondue UV qui offre une excellente transmission de l'UV à l'IR et un faible coefficient de dilatation thermique. Ces échantillonneurs de faisceau sont idéaux pour les applications où il est nécessaire de contrôler la puissance du faisceau, la distorsion du front d'onde et les pertes optiques.

Remarque : Les Échantillonneurs Minces de Faisceau Raie Laser Nd:YAG TECHSPEC^® peuvent être utilisés avec les produits de mesure laser pour surveiller les propriétés des faisceaux, telles que la puissance et le profil des faisceaux, en temps réel.