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Systèmes de Mesure M² DataRay

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  • Conformes à la norme ISO11146
  • Options de longueur d’onde de 355 à 1150 nm ou 2000 à 16.000 nm
  • Options de déplacement de 50 mm à 200 mm

Les Systèmes de Mesure M² DataRay combinent une caméra de profilage de faisceau montée sur une platine de translation automatisée pour constituer un système de mesure M² tout-en-un. Le M², ou facteur de qualité du faisceau, caractérise le degré d'imperfection d'un faisceau laser réel par rapport à un faisceau TEM00 parfait. Il s'agit d'un critère d'acceptation courant pour la fabrication de lasers ou de systèmes laser. Ces systèmes fonctionnent en déplaçant le profileur de faisceau monté à travers le waist du faisceau pour effectuer des mesures conformes à la norme ISO 11146. Ils sont disponibles avec des longueurs de déplacement de 50 ou 200 mm et deux gammes de longueurs d'onde : 355 à 1150 nm ou 2000 - 16.000 nm. Les Systèmes de Mesure M² DataRay sont conçus avec un système USB3 facile à configurer, une interface logicielle intuitive et de nombreux accessoires disponibles séparément. Ces systèmes de mesure sont idéaux pour mesurer une large gamme de M² sur des lasers pulsés et à ondes entretenues.

 
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