Les Standards Scratch & Dig selon les Normes NIST sont idéaux pour quantifier les défauts ‘scratch-dig’ d’une surface de composants optiques. En addition aux indications sur le Scratch Dig, vous y trouverez une échelle de 60mm, 6 grilles variant en taille et 6 blocs de lignes variant en fréquence. Les grilles peuvent être utilisées pour mesurer l’aire de défauts irréguliers. Pour les Standards Scratch & Dig selon les Normes NIST, la racine carrée de l’aire totale pour une région est l’indice de cette région. Les standards sont offerts en tant que sets de deux plaques. La plaque 1 inclut les indices allant de 0.004 à 0.040 alors que la Plaque 2 inclut ceux allant de 0.040 à 0.400. Les paramètres sont indiqués sur le dessus de la première surface. La seconde surface à les paramètres inscrits sur le dessous du substrat de verre. Les paramètres sur le set positif sont opaques sur un fond clair. Les paramètres sur le set négatif sont clairs sur un fond opaque.
Remarque : Un certificat de conformité est inclus avec chaque produit.
Plate 1 | |||||
Grade No. | Circ. Diameter (μm) | Dim. of Scratch (μm) | Freq. Block (lp/mm) | Grid Block Line W (μm) | Grid Block Line Spacing (μm) |
0.004 | 4.5 | 1 x 16 | 500 | 1 | 4.5 |
0.006 | 7 | 1.6 x 25 | 312.5 | 1.6 | 7 |
0.010 | 11 | 2.5 x 40 | 200 | 2.5 | 11 |
0.016 | 18 | 4 x 63 | 125 | 4 | 18 |
0.025 | 28 | 6.3 x 100 | 80 | 6.3 | 28 |
0.040 | 45 | 10 x 160 | 50 | 10 | 45 |
Plate 2 | |||||
Grade No. | Circ. Diameter (μm) | Dim. of Scratch (μm) | Freq. Block (lp/mm) | Grid Block Line W (μm) | Grid Block Line Spacing (μm) |
0.040 | 45 | 10 x 160 | 50 | 10 | 45 |
0.060 | 70 | 16 x 225 | 31.25 | 10 | 70 |
0.100 | 110 | 25 x 400 | 20 | 10 | 110 |
0.160 | 180 | 40 x 630 | 12.5 | 10 | 180 |
0.250 | 280 | 63 x 1000 | 8 | 10 | 280 |
0.400 | 450 | 100 x 1600 | 5 | 10 | 450 |
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