Un outil utile qui permet aux concepteurs optiques de déterminer diverses valeurs sans avoir à effectuer un traçage complet du système. Il est obtenu en comparant deux rayons à l'intérieur d'un système en n'importe quel point axial. Il est constant pour deux rayons quelconques en tout point du système. En d'autres termes, si l'invariant d'un ensemble de deux rayons est connu, il suffit de tracer l'un des rayons, puis de l'échelonner en fonction de l'invariant pour trouver le second.
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