Mire à contraste élevé pour l’imagerie avec des éléments de 0,5 à 10 mm
Certificat NIST inclus
Cette mire procure une référence hautement précise pour paramétrer les tailles de cercles et carrés et est idéale pour tester la précision de systèmes en métrologie, plus précisément ceux étant vulnérables à la distorsion. Le motif de précision est formé à partir d'un Chrome à faible réflexion sur un substrat de verre flotté dans le format standard d'une lame utilisée en microscopie. Le motif à faible reflexion procure un contraste élevé contre un fond lumineux, idéal pour des applications utilisant une illumination diffuse ou coaxiale. Le motif est appliqué sur le surface avant et se compose de cercles et carrés de 0,5 mm et des tailles d'incréments allant de 1 à 10 mm. La Mire Positive se compose d'un motif opaque sur un fond clair alors que la Mire Négative se compose d'un motif clair sur fond opaque.
ou consulter les numéros d’autres pays
facile à utiliser
entrer les numéros de stock pour commencer
Copyright 2023 | Edmund Optics SARL, 76-78 rue d’Alsace, 69100 Villeurbanne, France
L'entreprise Edmund Optics GmbH en Allemagne agit comme un mandataire d'Edmund Optics Ltd au Royaume-Uni. Le titulaire du contrat est Edmund Optics Ltd au Royaume-Uni.