Produit ajouté au panier
Tous les Communiqués de Presse

Wafers en Silice Fondue présentant une Rugosité de Surface inférieure à 10Å

Can be Used to Measure the Quality of Optical Coatings

7/8/2014, Barrington, NJ USA   —

Edmund Optics® (EO), principal fournisseur de composants optiques, introduit ses nouveaux Wafers en Silice Fondue. Ces wafers polyvalents sont des éléments de silice fondue UV fins et circulaires, conçus pour être utilisés comme des substrats de test, et mesurer la qualité des traitements optiques. Les Wafers en Silice Fondue peuvent également être utilisés comme composants factices pour des processus de configuration ou pour des applications de semi-conducteurs, de micro-lithographie, ou micro-électro-optiques (MEMS).

Nettoyés aux Ultrasons

Les Wafers en Silice Fondue d’Edmund Optics® présentent une rugosité de surface inférieure à 10Å et une qualité de surface de 40-20. Chaque Wafer en Silice Fondue est nettoyé aux ultrasons et est livré dans un emballage exempt de contaminants pour conserver sa qualité de haute précision.

Disponibles avec des diamètres 100 mm, 200 mm et 300 mm

Les Wafers en Silice Fondue d’Edmund Optics® sont disponibles avec des diamètres de 100 mm, 200 mm et 300 mm et ont tous une épaisseur de 1 mm et une plage de transmission comprise entre 0,2 et 2,2 μm. Les Wafers en Silice Fondue d’Edmund Optics®, d’excellente qualité, sont conformes RoHs et sont en stock et livrables immédiatement pour s’intégrer rapidement dans votre système.

 
Ventes & Conseil d’Experts
 
ou consulter les numéros d’autres pays
OUTIL DE DEVIS
facile à utiliser
entrer les numéros de stock pour commencer